Испытательный стенд IIP3

Измерьте входную точку пересечения трети системы

  • Библиотека:
  • RF Blockset / Конверт Схемы / Испытательные стенды

Описание

Используйте IIP3 Testbench, чтобы измерить входную точку пересечения трети (IIP3) устройства под тестом (DUT) РФ.

Параметры

развернуть все

Параметры

Выберите, чтобы использовать испытательный стенд внутренний блок Configuration. Очистите этот параметр, чтобы задать ваш собственный блок Configuration.

Примечание

При использовании вашего собственного блока Configuration, параметры, такие как размер шага, основные тоны, гармонический порядок, и моделируют шум, может влиять на измеренные результаты.

Выберите, чтобы включить моделирование шума в сигнале стимула ввод DUT и в DUT.

Зависимости

Чтобы включить этот параметр, выберите Use internal Configuration block.

Входная мощность к DUT, заданному как скаляр в dBm. Можно изменить входную мощность путем ввода значения в текстовое поле или выбора значения с помощью кнопки. Заданная входная мощность представляет степень, доступную во входных портах DUT. Допустимые значения между-90 dBm и 60 dBm

Несущая частота DUT, заданного как скаляр в Гц. Входная частота должна быть больше, чем основополосная пропускная способность.

Выведите частоту DUT, заданного как скаляр в Гц. Выходная частота должна быть больше, чем основополосная пропускная способность.

Основополосная пропускная способность входного сигнала, заданного как скаляр в Гц. Значение должно быть больше, чем нуль.

Положение тестовых тонов, заданных как скаляр.

Исходное сопротивление, чтобы измерить DUT, заданный как положительный конечный скаляр в Омах.

Нагрузочное сопротивление, чтобы измерить DUT, заданный как положительный конечный скаляр в Омах.

Выберите, чтобы просмотреть спектр ответа с помощью осциллографа спектра во время симуляции.

Выберите, чтобы внутренне заземлить и скрыть отрицательные терминалы. Очиститесь, чтобы представить отрицательные терминалы. Путем представления этих терминалов можно соединить их с другими частями модели.

Ссылки

[1] Razavi, Behzad. Микроэлектроника РФ. Верхний Сэддл-Ривер, NJ: Prentice Hall, 2011.

[2] Grob, Зигфрид и, Юрген Линднер. “Полиномиальная образцовая деривация нелинейных усилителей”. Отдел информационных технологий, университет Ульма, Германия.

[3] Kundert, Кен. “Точные и быстрые измерения IP2 и IP3”, Guide Consulting,Inc Разработчика..

Введенный в R2018a

Для просмотра документации необходимо авторизоваться на сайте