Чтобы сгенерировать тесты для расширенных целей покрытия Условия Decision Coverage (MCDC):
На вкладке Design Verifier, в разделе Mode, выберите Test Generation.
Нажмите Test Generation Settings.
В диалоговом окне Configuration Parameters, на Design Verifier> Test Generation панель, набор Model coverage objectives к Enhanced MCDC. Нажмите OK.
Нажмите Generate Tests.
Примечание
Расширенный анализ MCDC не поддерживается, когда вы генерируете Тесты для Embedded Coder Сгенерированного кода. Программное обеспечение рассматривает цели покрытия MCDC для анализа генерации тестов.
Simulink® Design Verifier™ анализ модели для целей покрытия Enhanced MCDC.
После завершения анализа:
Программа подсвечивает модель с результатами анализа.
В окне Inspector результатов отображаются сводные данные целей покрытия модели, включая статус обнаруживаемости.
В окне Results Inspector отображаются эти статусы обнаруживаемости для цели покрытия модели:
Поддающийся обнаружению
Не обнаруживается
Нерешенный
В таблице перечислены возможные комбинации целевого статуса и статусов обнаруживаемости.
| Целевой статус | Состояние обнаруживаемости | Тест |
|---|---|---|
Удовлетворенный | Поддающийся обнаружению | Этот тест удовлетворяет цели покрытия модели и обнаруживается в месте обнаружения. |
Удовлетворенный - нуждается в симуляции | Поддающийся обнаружению | Этот тест удовлетворяет цели покрытия модели и обнаруживается в месте обнаружения. Чтобы подтвердить удовлетворенное состояние, необходимо запустить дополнительные симуляции тестов. Для получения дополнительной информации см. «Удовлетворенные цели - Необходимо симуляция». |
Удовлетворенный | Не обнаруживается | Этот тест удовлетворяет цели покрытия модели. Однако цель тестирования не обнаруживается ни в одном месте обнаружения. |
Удовлетворенный | Нерешенный | Этот тест удовлетворяет цели покрытия модели. Программное обеспечение не может показать эффект цели покрытия модели на нисходящих блоках. |
Невыполнимый | Не обнаруживается | Цель тестирования неудовлетворительна и не обнаруживается ни на одном месте обнаружения. |
Нерешенный | Нерешенный | Цель тестирования не определена, и программное обеспечение не может показать свой эффект на нисходящие блоки. |
Файл данных Simulink Design Verifier хранит статус обнаруживаемости и сайт обнаружения для целей покрытия модели. Для получения дополнительной информации смотрите, Simulink Design Verifier Файлы данных.
Если вы пометите какой-либо сигнал как тестовый зарегистрированный сигнал, расширенный анализ MCDC по возможности расставит приоритеты таким сигналам, как сайты обнаружения для тестовых блоков. Для примера рассмотрим модель, показанную ниже:
Если вы делаете выход Min блок в качестве тестового зарегистрированного сигнала, сайт обнаружения для блока switch является выходным портом min блока. В противном случае это будет выход блока насыщения.
portHandle_MinBlk = get_param('model/Min', 'PortHandles’);
set_param(portHandle_MinBlk.Outport, 'TestPoint', 'on’);
set_param(portHandle_MinBlk.Outport, 'DataLogging', 'on’);Для получения дополнительной информации о тестовых точках смотрите Сконфигурируйте сигналы как тестовые точки. Для логгирования сигналов см. раздел «Конфигурирование сигналов для логгирования».
Чтобы анализировать модель с более строгими условиями немаскировки, включите опцию Использовать строгие условия распространения. Эта опция доступна в диалоговом окне Параметры конфигурации, на панели Design Verifier > Test Generation, в Advanced parameters.
Программное обеспечение оценивает более строгие условия немаскировки, чтобы анализировать эффект на тестовый блок из нисходящих блоков. Для примера:
Если ваша модель состоит из Atomic Subsystem с опцией Function packaging, установленной на Auto или Inline.
Рассмотрим модель, которая состоит из Switch и Atomic Subsystem блоков. Опция Function packaging установлена в Auto и вы включите опцию Использовать строгие условия распространения. Эффект тестового блока Switch обнаруживается в точке обнаружения Out1.
Когда вы анализируете модель с опцией Использовать строгие условия распространения, установленной на Offпрограммное обеспечение анализирует модель до тех пор, пока эффект тестового блока Switch не достигнет Atomic Subsystem. Точка Atomic Subsystem является точкой обнаружения.
Если ваша модель состоит из блоков, таких как Gain или Product с опцией Saturate on integer overflow, установленной на On.
Можно анализировать расширенные цели MCDC и их влияние на модель с помощью Model Slicer. В окне Результаты используйте Inspect ссылку справа от удовлетворенных и обнаруживаемых целей.
Также можно нажать на кнопку Inspect Using Slicer на вкладке Design Verifier.
После запуска Model Slicer, инструмент устанавливает вход на основе значений теста, которые имеют отношение к цели, сгенерированной Simulink Design Verifier, и шагов ко времени наблюдения, зарегистрированного sldvData. Затем Model Slicer добавляет объект модели, наблюдаемый как начальная точка, и показывает его влияние на точку обнаружения, подсвечивая срез.
